Интернет-магазин My-shop.ru
Акции   
Персональный раздел v
   Доставка    Оплата    Скидки    Форум    Помощь
для Москвы  +7 (495) 638-53-38
бесплатно для РФ  +7 (800) 100-53-38
 
0
• 
Книги (690923)
• 
Научная и научно-популярная литература (68669)
• 
Естественные науки (5792)
• 
Химические науки (397)
• 
Научная, учебная литература для специалистов (344)
• 
Физическая химия. Химическая физика (141)



Фундаментальные основы анализа нанопленок

Алфорд Терри Л. (найти все товары), Фельдман Леонард К., Майер Джеймс В.

Фундаментальные основы анализа нанопленокКнига посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры используются также и для модификации состава и структуры материалов. Осаждение потоков частиц, получаемых с помощью различных источников, позволяет получать пленочные материалы. Так, эпитаксиальные слои могут быть получены с использованием молекулярных пучков, а также с помощью физического и химического газофазного осаждения. Методики, основанные на изучении взаимодействия с частицами, позволяют, например, обеспечить контролируемые условия окислительных и каталитических реакций. Ключом к успешному использованию данных методик является широкая доступность аналитических технологий, чувствительных к составу и структуре твердых тел на нанометровом масштабе.
Книга предназначена для специалистов в области материаловедения и инженеров, интересующихся использованием различных видов спектроскопии и/или спектрометрии. Для людей, занимающихся анализом материалов, которым необходима информация о технике, имеющейся за пределами и лабораторий; и особенно для студентов старших курсов и выпускников, собирающихся использовать это новое поколение аналитических методов в своей научной работе.

Издательство: Научный мир
Серия: Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники

Рейтинг: - (голосов: 0)
Ваша оценка: 1 2 3 4 5  

дата выпуска: 2012 г. 
язык: русский
количество томов: 1
количество страниц: 396 стр.
переплет: твердый
формат: 70x100/16 (170x240 мм)
возрастная категория: 18+ (нет данных)
код системы скидок: 25
код в My-shop.ru: 1356714

ISBN: 978-5-91522-225-9


Алфорд Терри Л.автор/составительАлфорд Терри Л., найти все товары
Фельдман Леонард К.автор/составительФельдман Леонард К., найти все товары
Майер Джеймс В.автор/составительМайер Джеймс В., найти все товары

789 руб.
нет в наличии; под заказ по предоплате (подробнее)
шт.
отложить

|