Интернет-магазин My-shop.ru
Акции   
Персональный раздел v
   Доставка    Оплата    Скидки    Форум    Помощь
для Москвы  +7 (495) 638-53-38
бесплатно для РФ  +7 (800) 100-53-38
 
0
СКИДКИ ДО 25%Спецпредложение на детские игрушки и товары для сада и огородаДО 4 ИЮНЯ
• 
Образование, учебная литература (198507)
• 
ВУЗовская литература (30391)
• 
Физика (1422)
• 
Учебники: доп. пособия (831)



Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей. Гриф УМО ВУЗов России

Батаев А.А. (найти все товары), Батаев В.А., Алхимов А.П.

В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.
Для студентов и преподавателей технических ВУЗов.

Издательство: Флинта

Рейтинг: - (голосов: 0)
Ваша оценка: 1 2 3 4 5  

дата выпуска: 2007 г. 
издание: 2-е
язык: русский
количество томов: 1
количество страниц: 224 стр.
переплет: твердый
формат: 60x88/16 (140x205 мм)
тираж: 1000 экз.
стандарт: 20 шт.
возрастная категория: 18+ (нет данных)
код системы скидок: 25
код в My-shop.ru: 309278

ISBN: 978-5-9765-0207-9


Батаев А.А.автор/составительБатаев А.А., найти все товары
Батаев В.А.автор/составительБатаев В.А., найти все товары
Алхимов А.П.автор/составительАлхимов А.П., найти все товары

293 руб.   
(обычная цена: 319 руб.)
в наличии*
ориентировочная дата отгрузки: 31.05.2017 (Ср.)
шт.
отложить



Бестселлеры раздела...