Интернет-магазин My-shop.ru
Акции   
Персональный раздел v
   Доставка    Оплата    Скидки    Форум    Помощь
для Москвы  +7 (495) 638-53-38
бесплатно для РФ  +7 (800) 100-53-38
 
0
• 
Книги (692184)
• 
Научная и научно-популярная литература (68978)
• 
Естественные науки (5838)
• 
Науки о Земле. Экология (2497)
• 
Геология (183)



Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии

Рид С.Дж. Б. (найти все товары)

Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологииВ предлагаемой книге описываются рентгеноспектральный микроанализ и растровая электронная микроскопия применительно к решению геологических задач. Рассмотрены основы взаимодействия ускоренного пучка электронов с образцом и оборудование для ЭЗМА и РЭМ, основные принципы формирования изображения в РЭМ, принципы работы рентгеновских спектрометров с энергетической (ЭДС) и волновой дисперсией (ВДС). Подробно изложены процедуры качественного и количественного рентгеноспектрального анализа.
Книга предназначена для студентов-геологов и аспирантов, работников заводских лабораторий, а также как дополнительный материал для специалистов, использующих ЭЗМА и РЭМ для решения геологических задач. Чтобы сделать книгу доступной, в ней опущены излишние технические подробности.

Издательство: Техносфера
Серия: Мир наук о земле

Рейтинг: - (голосов: 0)
Ваша оценка: 1 2 3 4 5  

дата выпуска: 2008 г. 
язык: русский
количество томов: 1
количество страниц: 232 стр.
переплет: твердый
формат: 70x100/16 (170x240 мм)
тираж: 3000 экз.
стандарт: 12 шт.
возрастная категория: 18+ (нет данных)
код системы скидок: 25
код в My-shop.ru: 355033

ISBN: 978-5-94836-177-2


Рид С.Дж. Б.автор/составительРид С.Дж. Б., найти все товары

483 руб.
в наличии*
ориентировочная дата отгрузки: 07.12.2016 (Ср.)
шт.
отложить

|