Интернет-магазин My-shop.ru
Акции   
Персональный раздел v
   Доставка    Оплата    Скидки    Форум    Помощь
для Москвы  +7 (495) 638-53-38
бесплатно для РФ  +7 (800) 100-53-38
 
0
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии

Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии

Автор/составитель: Рид С.Дж. Б.
Издательство: Техносфера
Серия: Мир наук о земле

В предлагаемой книге описываются рентгеноспектральный микроанализ и растровая электронная микроскопия применительно к решению геологических задач. Рассмотрены основы взаимодействия ускоренного пучка электронов с образцом и оборудование для ЭЗМА и РЭМ, основные принципы формирования изображения в РЭМ, принципы работы рентгеновских спектрометров с энергетической (ЭДС) и волновой дисперсией (ВДС). Подробно изложены процедуры качественного и количественного рентгеноспектрального анализа.
Книга предназначена для студентов-геологов и аспирантов, работников заводских лабораторий, а также как дополнительный материал для специалистов, использующих ЭЗМА и РЭМ для решения геологических задач. Чтобы сделать книгу доступной, в ней опущены излишние технические подробности.

483 руб.
в наличии*
ориентировочная дата отгрузки: 27.06.2017 (Вт.)
шт.
отложить
дата выпуска2008 г. 
языкрусский
количество томов1
количество страниц232 стр.
переплеттвердый
формат70x100/16 (170x240 мм)
ISBN978-5-94836-177-2
тираж3000 экз.
стандарт12 шт. 
возрастная категория18+ (нет данных)
код системы скидок25
код в My-shop.ru355033
Бестселлеры раздела...