Интернет-магазин My-shop.ru
Акции   
Персональный раздел v
   Доставка    Оплата    Скидки    Форум    Помощь
для Москвы  +7 (495) 638-53-38
бесплатно для РФ  +7 (800) 100-53-38
 
0
• 
Книги (691154)
• 
Научная и научно-популярная литература (68669)
• 
Прикладные науки. Техника (6537)
• 
Автоматика. Радиоэлектроника. Связь (879)
• 
Электроника. Радиоэлектроника (425)

• 
Образование, учебная литература (188775)
• 
Для специалистов (10146)
• 
Информатика. Электроника. Связь (318)
• 
Научные издания, теории, монографии, статьи, лекции (118)

• 
Образование, учебная литература (188775)
• 
Для специалистов (10146)
• 
Физика (332)
• 
Научные издания, теории, монографии, статьи, лекции (146)



Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ

Криштал М.М. (найти все товары), Ясников И.С.

Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализКнига посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. В первой части описаны основные принципы и устройства, используемые в сканирующей электронной микроскопии. При этом изложен минимум информации, необходимый для понимания возможностей этого метода, правильной постановки задач для сканирующей электронной микроскопии и интерпретации результатов исследований. Во второй части подробно разобрано и систематизировано более 50 примеров практического применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. Большинство примеров относится к деятельности заводской лаборатории и иллюстрирует решения практических задач. Также приведены примеры решения исследовательских задач. Все примеры подобраны таким образом, чтобы дать наиболее полное представление о типах задач, решаемых с помощью сканирующей электронной микроскопии, о подходах к их решению и общей методологии.
В качестве учебного пособия книга предназначена для инженеров, аспирантов и студентов, повышающих свою квалификацию или обучающихся по специальностям, связанным с машиностроением и материаловедением. Ее можно использовать как вводный курс для операторов или непосредственных пользователей сканирующих электронных микроскопов. Книга также будет полезна специалистам, которым приходится ставить задачи, требующие применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом.

Издательство: Техносфера
Серия: Мир физики и техники

Рейтинг: 5.0 (голосов: 8)
Ваша оценка: 1 2 3 4 5  

дата выпуска: 2009 г. 
язык: русский
количество томов: 1
количество страниц: 208 стр.
переплет: твердый
формат: 60x100/16 (145x240 мм)
стандарт: 1 шт.
возрастная категория: 18+ (нет данных)
код системы скидок: 25
код в My-shop.ru: 494401

ISBN: 978-5-94836-200-7


Криштал М.М.автор/составительКриштал М.М., найти все товары
Ясников И.С.автор/составительЯсников И.С., найти все товары

445 руб.
в наличии*
ориентировочная дата отгрузки: 07.12.2016 (Ср.)
шт.
отложить

|