Интернет-магазин My-shop.ru
Акции   
Персональный раздел v
   Доставка    Оплата    Скидки    Форум    Помощь
для Москвы  +7 (495) 638-53-38
бесплатно для РФ  +7 (800) 100-53-38
 
0
ПОЛЕЗНЫЕ ТОВАРЫВсё, что нужно на любом участке и огороде — со скидками до 25%!ДЛЯ САДА И ОГОРОДА
LabVIEW. Практикум по основам измерительных технологий. Гриф УМО МО РФ

LabVIEW. Практикум по основам измерительных технологий. Гриф УМО МО РФ

Дополнительно: + CD-ROM
Авторы/составители: Батоврин В.К., Бессонов А.С., Мошкин В.В., Папуловский В.Ф.
Редактор: Батоврин В.К.
Издательство: ДМК Пресс

Учебное пособие содержит практикум по основам измерительных технологий, в котором представлены работы по методам обработки и оценки погрешностей результатов измерений, поверке средств измерений и методам и средствам измерения электрических и неэлектрических величин. Все работы практикума выполняются с компьютерными моделями, реализованными в среде LabVIEW.
Учебное пособие предназначено для студентов технических вузов, обучающихся по направлениям: "Приборостроение", "Информационные системы", "Автоматика и управление", "Информатика и вычислительная техника", изучающих курсы "Метрология, стандартизация и сертификация", "Теоретические основы измерительных и информационных технологий", "Методы и средства измерений" и смежные дисциплины. Практикум может использоваться как при традиционной организации учебного процесса, так и при ориентации на компьютерные обучающие системы, включая систему дистанционного образования.

нет в наличии
сообщить о поступлении в продажу
дата выпуска2010 г. 
издание2-е
языкрусский
количество томов1
количество страниц232 стр.
переплетмягкий
размеры170x240 мм
формат70x100/16 (170x240 мм)
ISBN978-5-94074-498-6
тираж1000 экз.
стандарт30 шт. 
возрастная категория18+ (нет данных)
код системы скидок25
код в My-shop.ru515303
Бестселлеры раздела...