Сверхскоростная твердотельная электроника. Том 2. Приборы специального назначения

Глава 6
Аппаратура анализа спектра, сигналов и цепей
6.1. Принципы построения анализаторов спектра
6.1.1. Спектральное представление сигналов и
процессов
6.1.2. Принципы построения гетеродинных
анализаторов спектра
6.1.3. Основные типы детекторов в анализаторах
спектра
6.1.4. Шум анализаторов спектра
6.1.5. Основные установки в анализаторах
спектра
6.1.6. Гетеродинный анализатор спектра
АКС-1100/1101
6.1.7. Функциональная схема современного
цифрового анализатора спектра
6.1.8. Векторные цифровые анализаторы спектра
6.2. Серийные цифровые анализаторы спектра
6.2.1. Отечественные цифровые анализаторы
спектра
6.2.2. Анализаторы спектра зарубежных фирм
6.3. Анализаторы спектра реального времени
6.3.1. Назначение анализаторов спектра
реального времени
6.3.2. Функциональная схема и работа
анализатора спектра реального времени
6.3.3. Цифровое преобразование сигналов в
анализаторах спектра реального времени
6.3.4. Синхронизация анализаторов спектра
реального времени
6.3.5. Основные способы представления
результатов анализа
6.3.6. Серийные цифровые анализаторы спектра
реального времени
6.3.7. Примеры работы с анализатором Tektronix
RSA 6114A
6.4.Анализаторы сигналов и источников сигналов
6.4.1. Методы измерения фазового шума
6.4.2. Системы параметров для радиочастотных
цепей
6.4.3. Измерительный приемник фирмы R&S FMSR
6.4.4. Анализатор источников сигналов фирмы R&S
FSUP
6.4.5. Радиочастотные векторные анализаторы
сигналов Keithley
6.4.6. Многопортовые векторные анализаторы
цепей
6.5.Анализ телекоммуникационных сигналов
6.5.1. Требования к анализаторам
телекоммуникационных сигналов
6.5.2. Анализаторы телекоммуникационных
сигналов корпорации Tektronix
6.5.3. Анализаторы последовательностей
реального времени SDA 18000/10000/9000 фирмы
LeCroy
6.6. Осциллографы специального назначения
6.6.1. Обзор осциллографов корпорации Yokogawa
6.6.2. Осциллографы серии DL 9000
6.6.3. Осциллографы DLM/DL 6000 и DL 1720Е и DL
1740Е
6.6.4. Осциллографы DL 1620/1640
6.6.5. Осциллографы-регистраторы класса DL 750
Scope Corder
6.6.6. Осциллограф-регистратор DL 850
6.6.7. Осциллограф-регистратор SL 1400
6.6.8. Осциллограф-регистратор SL 1000
6.6.9. Осциллографы европейских фирм
6.7. Анализаторы спектра с трекинг-генератором
6.7.1. Что такое трекинг-генератор?
6.7.2. Включение трекинг-генератора, его
калибровка и проведение
6.7.3. Применение трекинг-генератора совместно с
осциллографом
6.7.4. Измерение параметров коаксиальных
компонентов
и аттенюаторов
6.7.5. Тестирование активного
осциллографического пробника
6.7.6. Снятие АЧХ полосового фильтра на
резонансных контурах
6.7.7. Исследование кварцевых резонаторов
различного типа
6.7.8. Ограничения при работе с
трекинг-генератором
Глава 7
Компьютеризированные лаборатории и их
программное обеспечение
7.1. Стыковка цифровых измерительных приборов
с компьютером
7.1.1. Основные типы внешних устройств для
анализаторов
7.1.2. Порты для подключения измерительных
приборов к компьютеру
7.2.Программное обеспечение измерительных
приборов и систем
7.2.1. Основные виды программного обеспечения
измерительных приборов и систем
7.2.2. Замена фирменного программного
обеспечения
7.3. Подключение к компьютеру цифровых
осциллографов
7.3.1. Подключение к компьютеру осциллографов
7.3.2. Общие возможности программы Open Choice
Desktop
7.3.3. Выбор инструмента
7.3.4. Передача осциллограмм в память
компьютера и в буфер
7.3.5. Считывание данных и установок
осциллографа
7.3.6. Работа с установками Preferences
7.4. Программа NI SignalExpress Tektronix Edition
7.4.1. Назначение программы NI SignalExpress
Tektronix Edition
7.4.2. Запуск программы NI SignalExpress Tektronix
Edition
7.4.3. Основное окно программы NI SignalExpress
Tektronix Edition
7.4.4. Работа с инструментами программы NI
SignalExpress Tektronix Edition
7.5. Работа с программой ArbExpress
7.5.1. Назначение программы ArbExpress
7.5.2. Установка и запуск программы ArbExpress
7.5.3. Задание сигналов стандартных форм
7.5.4. Контроль и управление файлами
7.5.5. Задание сигналов, заданных
математическими функциями
7.5.6. Примеры программирования сложных
сигналов
7.5.7. Задание сигналов заданной графической
формы
7.5.8. Задание сигналов по их реальным
осциллограммам
7.6. Работа измерительных приборов с системой
MATLAB
7.6.1. Назначение матричной системы MATLAB
7.6.2. Подготовка к стыковке осциллографов с
системой MATLAB
7.6.3. MATLAB-программы для работы с цифровыми
осциллографами
7.6.4. Спектральный анализ осциллограмм в
MATLAB
7.6.5. Построение спектрограмм осциллограмм в
MATLAB
7.7. Управление генераторами произвольных
сигналов от системы MATLAB
7.7.1. От множества генераторов к одному
генератору произвольных сигналов
7.7.2. Системы компьютерной математики для
работы с генераторами произвольных сигналов
7.7.3. Управление генераторами серии AFG3000 от
матричной системы MATLAB
7.7.4. Применение системы MATLAB при совместной
работе генератора и цифрового осциллографа
7.8. Программа R&S FreRes для снятия и измерения
частотных характеристик
7.8.1. Назначение программы FreRes фирмы R&S
7.8.2. Окно и основное меню программы FreRes
7.8.3. Windows-меню программы FreRes
7.8.4. Выбор типа устройств
7.8.5. Выбор параметров свипирования
7.9. Цифровые измерительные приборы как
системы компьютерной математики
7.9.1. Интеграция цифровых измерительных
приборов
7.9.2. Многодоменный цифровой осциллограф и
анализатор спектра радиочастот MDO4000
корпорации Tektronix
7.9.3. MDO4000 в роли цифрового осциллографа
7.9.4. MDO4000 в роли анализатора спектра
7.9.5. Различные типы окон
7.9.6. Возможность построения спектрограмм
7.9.7. Просмотр спектра каналов в
многоканальных системах
7.9.8. Применение шумоподавления
7.10. Вейвлеты в осциллографии
7.10.1. Вейвлет анализ сложного сигнала
7.10.2. Средства GUI для работы с вейвлетами
7.10.3. Вейвлет-очистка сигнала от шума и
компрессия сигнала
7.10.4. Очистка сигналов с помощью пакетных
вейвлетов
7.10.5. Скейлингграммы в новых версиях Wavelet
Toolbox
Глава 8
Компоненты высокоскоростных устройств и систем
и их тестирование
8.1. Параметры пассивных компонентов
8.1.1. Идеальные и реальные резисторы
8.1.2. Идеальная и реальная индуктивности
8.1.3. Идеальный и реальный конденсаторы
(емкости)
8.2.Измерение параметров реактивных
компонентов
8.2.1. Иммитанс, адмитанс и импеданс цепей
8.2.2. Общий обзор цифровых измерителей
иммитанса и импеданса
8.2.3. Цифровой измеритель иммитанса Е7-20
8.2.4. Малогабаритный измеритель иммитанса
Е7-25
8.2.5. Работа с измерителем иммитанса Е7-20
8.2.6. Широкодиапазонный RLC-измеритель
АМ-3001
8.2.7. Лабораторные LCR-измерители компании
Good Will
8.2.8. Лабораторные LCR-измерители АКИП серии
61**
8.2.9. Высокочастотные LCR-измерители фирмы WK
8.3. Современные СВЧ-компоненты
8.3.1. Широкополосные аттенюаторы,
переходники и тройники
8.3.2. Переходники - блокираторы постоянной
составляющей сигнала
8.3.3. Ограничители СВЧ-мощности
8.3.4. СВЧ-детекторы
8.3.5. Источники шума серий 346 и N4001
8.3.6. Сенсоры мощности с USB-интерфейсом
8.4. Монолитные микросхемы СВЧ-аттенюаторов
фирмы Hittite Microwave
8.4.1. СВЧ-микросхемы аттенюаторов с
фиксированным ослаблением
8.4.2. Микросхемы аттенюаторов с аналоговым
управлением
8.4.3. Микросхемы аттенюаторов с цифровым
управлением
8.5. Высокоскоростные коммутаторы и обострители
8.5.1. Электромеханические коммутаторы
СВЧ-сигналов фирмы Agilent
8.5.2. Высокоскоростные коммутаторы на
p-i-n-диодах
8.5.3. Высокоскоростные коммутаторы на GaAs
полевых транзисторах
8.5.4. Конверторы времени нарастания и спада
импульсов
8.5.5. Монолитные микросхемы коммутаторов
СВЧ-сигналов
8.5.6. Коммутационные процессы и их
тестирование
8.6. Тестирование СВЧ-фильтров анализатором
спектра с трекинг-генератором
8.6.1. Тестирование СВЧ-полосового фильтра на
объемных резонаторах
8.6.2. Тестирование СВЧ-полосовых
микрополосковых фильтров
8.7. Контроль линий передачи
8.7.1. Импульсная рефлектометрия
8.7.2. Цифровой осциллограф в роли
рефлектометра
8.7.3. Расшифровка рефлектограмм
8.7.4. Портативные цифровые рефлектометры
РЕЙС-105
8.7.5. Портативные цифровые рефлектометры
РЕЙС-205
8.7.6. Портативные цифровые рефлектометры
РЕЙС-305
8.8. Испытание световолоконных кабелей и линий
передачи
8.8.1. Конструкция и параметры световодов
8.8.2. Оптическая рефлектометрия
8.8.3. Стационарные оптические рефлектометры
8.8.4. Оптические мини-рефлектометры
8.8.5. Оптические мини-рефлектометры фирмы
EXFO
8.8.6. Карманный оптический рефлектометр FOD-
7202
8.8.7. Оптический мини-рефлектометр FOD-7005
8.8.8. Мини-рефлектометр ТОПАЗ-9000
8.8.9. Оптический рефлектометр MTP 9000А
8.8.10.Оптический рефлектометр E6000C фирмы
Agilent
8.9. Анализ спектра оптического излучения
8.9.1. Анализаторы спектра оптического
излучения
8.9.2. Оптические фильтры анализаторов
оптического спектра
8.9.3. Светосильный спектрометр SPT-DDHR-04
8.9.4. Анализаторы оптического спектра фирмы
EXPO
8.9.5. Примеры применения анализатора спектра
оптического диапазона
8.9.6. Анализаторы оптического спектра Anritsu
MS9710B/C
8.9.7. Анализаторы оптического спектра Yokogawa
AQ6319/6370
8.9.8. Портативные анализаторы спектра
оптического диапазона
8.9.9. Сверхминиатюрные анализаторы
оптического спектра
Глава 9
Исследование быстропротекающих процессов
в микроэлектронных устройствах
9.1. Исследование полупроводниковых диодов
9.1.1. Общие вопросы измерения параметров
диодов
9.1.2. Источники/измерители фирмы Keithley серии
2400/2600
9.1.3. Определение и измерение
дифференциальных параметров
9.1.4. Измерения динамических параметров
высокоскоростных диодов
9.1.5. Измерение времени переключения
туннельных диодов
9.2. Исследование биполярных и полевых
транзисторов
9.2.1. Методы снятия ВАХ транзисторов
9.2.2. Характериографы для снятия ВАХ
транзисторов
9.2.3. Исследование полевых транзисторов
9.3. Исследование переходных процессов
переключения транзисторов
9.3.1. Выбор генераторов переключающих
импульсов
9.3.2. Исследование переходных процессов при
переключении биполярных транзисторов
9.3.3. Измерение параметров МДП-транзисторов
во временной области
9.3.4. Измерение времени переключения
арсенид-галлиевых
9.3.5. Измерение времени переключения лавинных
транзисторов
9.3.6. Оценка времени переключения
сверхскоростных
9.4. Измерение радиочастотных параметров
полупроводниковых приборов и микросхем
9.4.1. Измерение радиочастотных параметров
цифровыми осциллографами
9.4.2. Измерение радиочастотных параметров с
помощью генераторов и анализаторов спектров,
сигналов и цепей
9.4.3. Комплекс измерения радиочастотных
параметров фирмы Keithley
9.4.4. Система параметрического контроля
радиочастотных параметров микросхем S600
9.5. Тестирование скоростных интегральных
микросхем
9.5.1. Тестирование интегральных усилителей
9.5.2. Тестирование интегральных компараторов
9.5.3. Тестирование сверхскоростных
интегральных схем
9.6. Контроль цифровых и логических микросхем
9.6.1. Назначение логических анализаторов
9.6.2. Функциональная схема логического
анализатора
9.6.3. Этапы работы с логическим анализатором
9.6.4. Запуск логического анализатора и
синхронизация
9.6.5. Синхронный и асинхронный режимы сбора
данных
9.6.6. Глитчи в цифровой аппаратуре и проблема
их обнаружения
9.7. Современные логические анализаторы
9.7.1. Логические анализаторы фирмы Agilent
Technologies
9.7.2. Логические анализаторы фирмы Tektronix
9.7.3. Логические анализаторы фирмы Leaptronix
9.7.4. Логические анализаторы фирмы Hewlett
Packard
9.7.5. Осциллографы смешанных сигналов как
логические анализаторы
9.7.6. Осциллографы смешанных сигналов DL 9000
9.7.7. Осциллографы смешанных сигналов DL 7000
9.7.8. Осциллографы DLM 2000
9.7.9. Пробники для логических анализаторов
Глава 10
Исследование быстропротекающих процессов в
оптических и радиофизических системах и
устройствах
10.1. Светодиоды, лазерные диоды и
фотоприемники
10.1.1. Типы полупроводниковых
оптико-электронных приборов
10.1.2. Конструкция и характеристики обычных
светодиодов
10.1.3. Конструкция и характеристики лазерных
светодиодов
10.1.4. Конструкция и характеристики
фотоприемников
10.2. Методы и приборы для исследования
излучателей светового излучения
10.2.1. Интегрирующая сфера 2500INT фирмы
Keithley
10.2.2. Построение системы для исследования
излучателей света
10.2.3. Источники/измерители серии 2400 для IV
тестирования оптоэлектронных приборов
10.3. Исследование импульсных лазерных
излучателей
10.3.1. Интегрирующая сфера для импульсных
лазерных излучателей 2520INT
10.3.2. Система тестирования импульсных
лазерных излучателей 2520
10.4. Исследование фотодиодов и
фототранзисторов
10.4.1.Снятие статических характеристик
фотодиодов и фототранзисторов
10.4.2. Многоканальная I-V система тестирования
4500-MTS
10.4.3. Двухканальный пикоамперметр серии 2502
для фотодиодных измерений
10.4.4. Системные источники/измерители
2602/2612 для LIV-тестирования
10.5. Исследование высокоскоростных
излучателей
и приемников света
10.5.1. Особенности динамики излучения
высокоскоростных лазерных диодов
10.5.2. Установка для исследования динамики
излучения высокоскоростных лазерных диодов
10.5.3. Наблюдение эффекта обострения фронта
импульса лазерного излучения
10.5.4. Запуск мощных лазерных диодов и
лазерных решеток
10.5.5. Импульсные генераторы и оптические
модули фирмы DEI
10.5.6. Исследование сверхскоростных
светодиодов и фотоприемников
10.6. Методы формирования высоковольтных и
сильноточных импульсов на лавинных
транзисторах
10.6.1. Простейшие генераторы мощных
импульсов для запуска лазерных светодиодов
10.6.2. Генераторы с последовательным
включением лавинных транзисторов
10.6.3. Генераторы на лавинных транзисторах,
построенные по схеме Аркадьева-Маркса
10.6.4. Генераторы с параллельным включением
лавинных транзисторов
10.6.5. Генераторы и модули с комбинированным
включением лавинных транзисторов
10.6.6. Конструктивное выполнение генераторов
коротких импульсов
10.7. Генераторы мощных наносекундных
импульсов на лавинных
тиристорах
10.7.1. Генератор с емкостным накопителем
10.7.2. Генератор прямоугольных импульсов с
накопительной кабельной линией
10.7.3. Генератор прямоугольных импульсов с
формирующим двухполюсником
10.8. Высокоскоростное управление электронными
приборами
10.8.1. О применении лавинных транзисторов для
управления электронными приборами
10.8.2. Запуск электронных и электронно-
полупроводниковых ламп
10.8.3. Схема быстрого стробирования
фотоэлектронного умножителя
10.8.4. Генератор кодовых последовательностей
с частотой заполнения 0,75 ГГц
10.8.5. Управление 0,25 ГГц импульсным лазерным
излучением
10.8.6. Лавинные транзисторы в схемах
управления ячейками Поккельса
10.8.7. Схемы управления ячейками Поккельса на
лавинных транзисторах в комбинации с другими
приборами
10.8.8. О других средствах формирования
высоковольтных импульсов
с субнаносекундными фронтами
10.8.9.Сверхскоростная развертка на лавинных
транзисторах
10.8.10.Лавинные транзисторы в ультразвуковых
эхо-импульсных толщиномерах
10.9. Исследование антенн импульсными сигналами
и сверхширокополосная связь
10.9.1. Техника измерения параметров антенн
10.9.2. Типичная установка для измерения
параметров антенн
10.9.3. Технические характеристики установки
для измерения параметров антенн
10.9.4. О выборе формы импульсов для испытания
антенн
10.9.5. Типичная функциональная схема
сверхширокополосной системы связи
10.10. Исследование видео- и подповерхностных
радаров
10.10.1. Возбуждение антенн для видеолокаторов
и георадаров
10.10.2. Георадары серии "Вий" (VIY)
10.11. Генераторы сверхмощных наносекундных
импульсов на SOS-диодах
10.11.1. Высоковольтные модули на SOS-диодах
10.11.2. Генераторы коротких импульсов на
высоковольтных модулях с SOS-диодами
10.11.3. Частотные генераторы мощных коротких
импульсов на SOS-диодах
10.12. Генераторы сверхмощных
электромагнитных и оптических
импульсов
10.12.1. Возможности генераторов сверхмощных
импульсов в военной сфере
10.12.2. Растяжение, сжатие и усиление
импульсов лазерного излучения пико- и
фемтосекундного диапазонов
10.12.3. Методы исследования импульсов
лазерного излучения пико-и фемтосекундного
диапазона
10.12.4. Оптоэлектронный стробоскопический
осциллограф
10.12.5. Мощные лазеры, генерирующие импульсы
пико-и фемтосекундного диапазонов
Литература