Книги / Научная и научно-популярная литература / Прикладные науки. Техника / Автоматика. Радиоэлектроника. Связь / Электроника. Радиоэлектроника
Образование, учебная литература / Для специалистов / Информатика. Электроника. Связь / Научные издания, теории, монографии, статьи, лекции

Валидация на системном уровне

Чэнь М., Цинь К., Ку Х.-М.

Код товара: 4965177

(0 оценок)Оценить

ОтзывНаписать отзыв

ВопросЗадать вопрос

1 / 2

PDF

-30%

532

760

Доставим в

г. Москва

Планируемая дата

5 мая (Вс)

Курьером

бесплатно от 10 000 ₽

В пункт выдачи

от 155 ₽

бесплатно от 10 000 ₽

Точная стоимость доставки рассчитывается при оформлении заказа

Издательство:

Техносфера

Оригинальное название:

System-Level Validation

Год издания:

Серия:

Мир радиоэлектроники

Редактор:

Ланцев А. Н.

Переводчик:

Махиянова Е. Б.

Описание

Характеристики

В этой книге описываются методы высокоуровневого моделирования и валидации комплексных систем аппаратных средств и программного обеспечения, включая архитектуры с многоядерными процессорами. Читатели узнают, как избежать затрат времени и ошибок при всесторонней системной валидации, в том числе при моделировании систем и их отказов, а также об автоматической генерации специализированных тестов и эффективных методиках валидации с использованием подобных тестов и подтверждения работоспособности систем. Методологии, описанные в этой книге, помогут разработчикам улучшить качество валидации благодаря выполнению тестов на ранних стадиях проектирования при одновременном снижении стоимости этих процессов и усилий, направленных на валидацию систем в целом.
Эта книга предназначена для студентов старших курсов, аспирантов, исследователей, разработчиков инструментов САПР, проектировщиков и менеджеров, заинтересованных в развитии эффективных инструментов и методов проектирования и валидации на системном уровне, генерации направленных тестов и функциональной валидации гетерогенных конструкций СнК.

количество томов

количество страниц

296 стр.

переплет

Твёрдый переплёт

размеры

247x175x17 мм

цвет

Белый

тип бумаги

офсетная (60-220 г/м2)

ISBN

978-5-94836-365-3

возрастная категория

18+ (нет данных)

вес

545 г

код в Майшоп

4965177

язык

русский

Содержание

Вступление
Предисловие
Благодарности
Об авторах
Список сокращений
Глава 1. Введение
Глава 2. Моделирование и спецификации дизайнов
СнК
Глава 3. Автоматическая генерация направленных
тестов
Глава 4. Уплотнение функциональных тестов
Глава 5. Кластеризация свойств и методы обучения
Глава 6. Порядок принятия решений на основе
методов обучения
Глава 7. Синхронизированная генерация
направленных тестов
Глава 8. Создание тестов с помощью декомпозиции
дизайна и свойств
Глава 9. Методы ориентированной на обучение
декомпозиции свойств
Глава 10. Генерация направленных тестов для
многоядерной архитектуры
Глава 11. Генерация тестов для валидации
согласованности КЭШей
Глава 12. Повторное использование результатов
валидации на системном уровне
Глава 13. Заключение

Отзывы

Вопросы

Поделитесь своим мнением об этом товаре с другими покупателями — будьте первыми!

Дарим бонусы за отзывы!

За какие отзывы можно получить бонусы?

За уникальные, информативные отзывы, прошедшие модерацию

Как получить больше бонусов за отзыв?

Публикуйте фото или видео к отзыву
Пишите отзывы на товары с меткой "Бонусы за отзыв"

Правила начисления бонусов

Задайте вопрос, чтобы узнать больше о товаре

Если вы обнаружили ошибку в описании товара «Валидация на системном уровне» (авторы: Чэнь М., Цинь К., Ку Х.-М.), то выделите её мышкой и нажмите Ctrl+Enter. Спасибо, что помогаете нам стать лучше!