Воздействие ионизирующего излучения в электронике. От схем памяти до формирователей изображений

Код товара: 4964508
(0 оценок)Оценить
ОтзывНаписать отзыв
ВопросЗадать вопрос
1 / 2
PDF
1 372
1 960
Доставим в
г. Москва
Планируемая дата
27 апреля (Сб)
Курьером
Л-Пост
бесплатно от 3 500 ₽
В пункт выдачи
от 77 ₽
бесплатно от 2 000 ₽
Точная стоимость доставки рассчитывается при оформлении заказа
Издательство:
Оригинальное название:
Ionizing Radiation Effects in Electronics
Год издания:
2023 г.
Может быть отгружен товар указанного или более позднего года

Описание

Характеристики

Цель этой книги – дать читателю широкое представление о влиянии ионизирующего излучения на современные полупроводниковые приборы и методах повышения их стойкости. В ней собраны труды экспертов высочайшего уровня в области радиационных эффектов, представляющих промышленность, научно-исследовательские лаборатории и научное сообщество. Благодаря наличию справочных материалов, тематических исследований и обновленных ссылок эта книга подходит как для новичков, желающих познакомиться с радиационными эффектами, так и для экспертов в области радиации, желающих открыть для себя что-то новое.
количество томов
1
количество страниц
504 стр.
переплет
Твёрдый переплёт
размеры
250x178x25 мм
цвет
Белый
тип бумаги
офсетная (60-220 г/м2)
ISBN
978-5-94836-599-2
возрастная категория
18+ (нет данных)
вес
код в Майшоп
4964508
язык
русский

Содержание

Предисловие редактора перевода
Предисловие
Редакторы.
Глава 1. Введение в радиационные эффекты в
электронике
Глава 2. Моделирование радиационных эффектов
методом Монте-Карло.
Глава 3. Полное руководство по множественным
сбоям в статическом ОЗУ, изготовленном по
декананометровой КМОП-технологии
Глава 4. Радиационные эффекты в запоминающих
устройствах DRAM
Глава 5. Радиационные эффекты в схемах флеш-
памяти
Глава 6. Радиационные эффекты в
микропроцессоре
Глава 7. Проектирование защелок и триггеров,
устойчивых к мягким сбоям.
Глава 8. Обеспечение надежности троированных
схем ПЛИС на основе статического ОЗУ
Глава 9. Методы борьбы с одиночными эффектами
для аналоговых и цифроаналоговых схем
Глава 10. Монолитные КМОП-сенсоры с гибридной
пикселеподобной стационарной выходной
электроникой обработки сигналов: исследования
ионизационных дозовых эффектов и объемных
повреждений.
Глава 11. Радиационные эффекты в
формирователях изображения на основе КМОП-
активных пиксельных сенсоров.
Глава 12. Радиационные эффекты естественного
происхождения в приборах с зарядовой связью
Глава 13. Радиационные эффекты в оптоволокне и
оптоволоконных сенсорах

Отзывы

Вопросы

Поделитесь своим мнением об этом товаре с другими покупателями — будьте первыми!

Дарим бонусы за отзывы!

За какие отзывы можно получить бонусы?
  • За уникальные, информативные отзывы, прошедшие модерацию
Как получить больше бонусов за отзыв?
  • Публикуйте фото или видео к отзыву
  • Пишите отзывы на товары с меткой "Бонусы за отзыв"
Правила начисления бонусов
Задайте вопрос, чтобы узнать больше о товаре
Если вы обнаружили ошибку в описании товара «Воздействие ионизирующего излучения в электронике. От схем памяти до формирователей изображений», то выделите её мышкой и нажмите Ctrl+Enter. Спасибо, что помогаете нам стать лучше!
Ваш населённый пункт:
г. Москва
Выбор населённого пункта